smarc II 激光干涉仪

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倒置Smarc II激光干涉仪

功能:

◆ 小型平面光学零件的平面度及面形测定;

◆ 各种材料的高精度镜片的球面测定。

特点:

◆ 结构紧凑;

◆ 低价位,高性能;

◆ 操作简便标准的测量/校正切换功能,使光调整更容易方便;

◆ 抗震性能极佳;

◆ 倒置型适宜在加工现场使用;

◆ 配件和参考标准镜头种类齐全。

◆ 该口径的干涉仪分立式和卧式两种,立式又分为正置、倒置。



倒置Smarc II激光干涉仪
Smarc II
激光干涉仪(立式倒置)

  技术指标:

测量方式

菲索干涉原理

口径

25mm

激光源

半导体激光器(λ=635nm

分辨率

795H*596V

平面测试精度

PV λ/20,RMS λ/100

球面面形精度

PV λ/10, RMS λ/50

电源

AC 220V 50HZ

标准配件

10寸液晶显示器

选购件:(详情参考镜头系列)

平面标准镜
       球面标准镜F/0.6

球面标准镜F/0.75

球面标准镜F/1.0

球面标准镜F/1.5

球面标准镜F/2.0

球面标准镜F/3.0

球面标准镜F/5.0


类型
光谱仪
品牌
英特飞
型号
smarc II
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